Profil anzeigen: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM (ASSID)) Geräte — Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM (ASSID))
15 Ergebnisse
2D / 3D Confocal Measuring System
Hersteller: confovis GmbH Modell: ConfoDisc CL200/CL300 Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
2D / 3D Wafer Inspection System
Hersteller: Camtek Ltd. Modell: Falcon 530 Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop)
Hersteller: Carl Zeiss SMT AG Modell: Leo Gemini 1530 Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
Bow/ Warpage/ TTV
Hersteller: Sigmatech Modell: SIGMATECH 92H-IR-BD Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
Energy Dispersive X-Ray (EDX) Spectroscope
Hersteller: Oxford Instruments Modell: INCA x-act Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
Pull- und Schertester
Hersteller: Nordson DAGE Modell: 4000 Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
Waferprober
Hersteller: SÜSS MicroTec (now: Cascade Microtech) Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
Bruchtester
Hersteller: Zwick GmbH & Co. KG Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
TSV-Tiefenmessung
Hersteller: Filmtech Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
Wafer Testing And Metrology - Wafer Surface Profiler
Hersteller: Veeco Instruments Inc. Modell: Dektak V 300-Si Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
