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Profil anzeigen: Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme (IPMS)

Geräte — Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme (IPMS)

Fraunhofer Institute for Photonic Microsystems (IPMS)
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24 Ergebnisse

 
KLA-Tencor Surfscan 6220 (Quelle: www.specequipment.com)

Defect Inspection System

Hersteller: KLA-Tencor Corporation
Modell: Surfscan 6220
Einrichtung: MEMS Technologies Dresden

 
Tunable Diode Laser System New Focus™ TLB-6700 (Quelle: www.newport.com)

Tunable Diode Laser System

Hersteller: New Focus™
Modell: TLB-6200
Einrichtung: MEMS Technologies Dresden

 
Confocal Raman Microscope Renishaw inVia (Quelle: www.renishaw.com)

Confocal Raman Microscope

Hersteller: Renishaw plc.
Modell: inVia
Einrichtung: Interconnects

 
FE SEM Hitachi S5000 (Quelle: www.fabsurplus.com)

Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop)

Hersteller: Hitachi High Technologies
Modell: S-5000
Einrichtung: Analytics

 
ION-TOF TOF.SIMS 300 R (Quelle: www.iontof.com)

TOF-SIMS

Hersteller: ION-TOF GmbH
Modell: TOF.SIMS 300R
Einrichtung: Analytics

 
Twymen-Green-Interferometer µPhase® DCI 2( Quelle: www.qe-online.de)

Twymen-Green-Interferometer

Hersteller: TRIOPTICS GmbH (FISBA OPTIK GmbH)
Modell: µPhase® DCI 2
Einrichtung: MEMS Technologies Dresden

 
Vibrometer MSV-400

Microscope Scanning Vibrometer

Hersteller: Polytec GmbH
Modell: MSV-300
Einrichtung: MEMS Technologies Dresden

 
X-Ray Diffractometer Siemens D5000 (Quelle: www.labx.com)

X-Ray Diffractometer (XRD)

Hersteller: Siemens AG
Modell: D5000
Einrichtung: MEMS Technologies Dresden

 
Varian FT-IR Spectrometer 640-IR (Quelle: www.med.monash.edu)

Fourier Transform Infra Red Spectrometer (FT-IR)

Hersteller: Varian Inc. (now: Agilent Technologies)
Modell: 640-IR
Einrichtung: High-k Devices

 
FEI Strata 400 STEM (Quelle: www.ims.uconn.edu)

DualBeam Field Emission Scanning Electron Microscope with Focused Ion Beam (FE SEM/ FIB)

Hersteller: FEI Company
Modell: Strata 400 STEM
Einrichtung: Analytics

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