3D-Topographiemessung
Basic Information
Name: | 3D-Topographiemessung | |
Facility: | Sintered and Composite Materials | |
Partner: | Fraunhofer Institute for Manufacturing Technology and Advanced Materials, Dresden Branch (IFAM) |
Description
Das optische Messsystem wird für hoch aufgelöste und genaue Profil-, Topographie- und Rauheitsmessungen eingesetzt. Der Sensor arbeitet nach dem Prinzip der chromatischen Abstandsmessung. Durch Rastern der Probe werden entsprechend der Vorgabe Linienprofile oder 3-D-Oberflächen gemessen.
Link to Further Details
http://www.ifam.fraunhofer.de/de/Dresden/technologien/instrumentelle_analytik.html
Points of Contact
Dr.-Ing. Thomas Weißgärber (Head of Department)
Web:
Phone:
+49 351 2537-305
Fax:
+49 351 2537-399
Notes
This is a service within the Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis (DFCNA).
Associated Instruments
Name | Preview | Actions |
---|---|---|
Surface Metrology Tool / Oberflächenmessgerät |
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Last Update
Last updated at: 13 July 2017 at 11:54:16