Grain orientation inspection with EBSD and KOSSEL technology
Basic Information
Name: | Grain orientation inspection with EBSD and KOSSEL technology | |
Facility: | Working Group for Physical Materials Diagnostics | |
Partner: | Technische Universität Dresden (TUD) |
Short Description
Description
Zur gerätetechnischen Umsetzung wurde im Röntgenographischen Speziallabor ein multifunktionales KOSSEL-/EBSD-/REM-Mikrobeugungssystem (MFS) entwickelt und realisiert, welches die Anfertigung großformatiger (Genauigkeit der Auswertung) KOSSEL-Aufnahmen bei gleichzeitiger rasterelektronenmikroskopischer Auswahl des Untersuchungspunktes mit hoher Ortsauflösung gestattet. Die Größe der genutzten Flächendetektoren (Röntgenfilm, Image Plate) beträgt 240 x 300 mm.
Mit Hilfe der EBSD-Technik ist es möglich, in einem Rasterelektronenmikroskop (REM) schnelle automatisierte Kornorientierungsbestimmungen und somit Texturanalysen von der Oberfläche kompakter Proben durchzuführen.
Untersuchungsbeispiele aus unserem Labor:
- Orientierungsbestimmung der Einzelkörner in MappingsBestimmung der Kristallitgrößen
- Korngrenzenanalyse
- Texturanalyse
- Versetzungsdichteabschätzung in Kopplung mit der KOSSEL-Technik
Informationsgehalt einer KOSSEL-Aufnahme:
- Präzisionsbestimmung der kristallografischen Orientierung (Δα = ± 0,01° bei Missorientierung, sonst Δα= ± 0, 1° )
- Bestimmung von Symmetrieerniedrigungen (Tetragonale oder orthorhombische Verzerrungen)
- Präzisions-Gitterkonstantenbestimmung Δa/a ≤ 3·10-5 (in Spezialfällen: 3·10-6)
- Präzisionsbestimmung einzelner Netzebenenabstände (Eigenspannungsanalyse III.Art) mit |Δσ| ≤ 10 MPa
- Versetzungsdichtebestimmung (107 bis 1010 Versetzungen pro cm2)
- Phasenidentifizierung im Mikrobereich
- Unterscheidung von A- und B-Seiten nicht zentrosymmetrischer Gitter („Seitenidentifizierung“ z.B. an GaP-Halbleitern, Phaseninformation der Intensität, dynamische Theorie)
Link to Further Details
https://tu-dresden.de/ing/maschinenwesen/ifww/wd/dienstleistungen/kossel-und-pseudo-kossel-technik
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Associated Instruments
Name | Preview | Actions |
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Scanning Electron Microscope (SEM) with coupled EBSD technology and KOSSEL processing |
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Last Update
Last updated at: 9 October 2018 at 14:11:22