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Spectroscopic Ellipsometer / Spektralellipsometer SENTECH GmbH SE 850

Informationen

Name: Spectroscopic Ellipsometer / Spektralellipsometer
Hersteller: SENTECH GmbH
Modell: SE 850
Einrichtung: Micro Materials Center (MMC)

Beschreibung

The task of a spectroscopic ellipsometer is to determine layer thickness and optical properties of single or multi-layered surfaces.

 

Measure/Resolution:

300 mm stage, spectral range: UV/vis/nIR (190…2300nm)

Accessory/Options:

Micro spot accessory

Link zu weiteren Informationen

http://www.sentech.com/en/spectroscopic-ellipsometry__2298/

Ansprechpartner

Prof. Dr. Sven Rzepka (Head of Department)
Telefon:
+49 371 45001-421
Fax:
+49 371 45001-521

Notizen

This is an instrument within the Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis (DFCNA).

Bilder

Letztes Update

Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:13