Das Rasterelektronenmikroskop (REM) mit EDX-Detektor für die chemische Analyse und mit dem EBSD-Detektor für die Orientierungsmessung kann für die umfassende Werkstoffcharakterisierung genutzt werden. Das REM-Wirkprinzip beruht darauf, dass auf der Probenoberfläche gebündelte Elektronen auftreffen. Dabei treten diese mit der Probe in Wechselwirkung. Die Wechselwirkungsprodukte werden nach der Art und Intensität von verschiedenen Detektoren erfasst und analysiert.