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Transmissionselektronenmikroskop
Hersteller: JEOL
Modell: F-200C
Einrichtung: Dresden Center for Nanoanalysis
PicoIndenter
Hersteller: Hysitron Inc. (heute: Bruker)
Modell: PI 87
Einrichtung: Dresden Center for Nanoanalysis
"Der PI 87 ist ein Tiefe-ermittlendes mechanisches Prüfgerät, das konstruiert wird, an ein Rasterelektronenmikroskop oder (SEM) ein FIB/SEM angeschlossen zu werden." [www.hysitron.com]