"Der PI 87 ist ein Tiefe-ermittlendes mechanisches Prüfgerät, das konstruiert wird, an ein Rasterelektronenmikroskop oder (SEM) ein FIB/SEM angeschlossen zu werden." [www.hysitron.com]

"Der PU 87 ist ein Tiefe-ermittlendes mechanisches Prüfgerät, das konstruiert wird, an ein Rasterelektronenmikroskop oder (SEM) ein FIB/SEM angeschlossen zu werden.

Diese Anlage führt quantitative nanomechanical Prüfung während gleichzeitig Darstellung mit SEM durch. Außerdem gibt die Probe, die mit fünf Freiheitsgraden in Position bringt (X, O, Z, Rotation und Neigung) dem Benutzer die Freiheit, um die Probe mit einem Ionenträger für Beispielvorbereitung/ Modifikation oder verschiedene Detektoren für hoch entwickelte Analyse auszurichten." [www.hysitron.com]