Structured Illumination Microscope (ApoTome2, inverse, CRTD)

Hersteller: Zeiss
Modell: Axio Observer.Z1
Einrichtung: Lichtmikroskopie

Structured Illumination Microscope (ApoTome1 3rd floor, upr., CRTD)

Hersteller: Zeiss
Modell: Axio Imager
Einrichtung: Lichtmikroskopie

Structured Illumination Microscope (ApoTome1, inverse, BIOTEC)

Hersteller: Zeiss
Modell: Axiovert 200M
Einrichtung: Lichtmikroskopie

Structured Illumination Microscope (ApoTome1 2nd floor, inv., CRTD)

Hersteller: Zeiss
Modell: Axio Observer.Z1
Einrichtung: Lichtmikroskopie

Structured Illumination Microscope (ApoTome, 2nd floor, MTZ)

Hersteller: Zeiss
Modell: Axio Observer.Z1
Einrichtung: Core Facility Cellular Imaging

Stylus Profilometer

Hersteller: Veeco
Modell: Dektak 8
Einrichtung: Professur für Halbleitertechnik

Profilometer bis 100mm Weglänge. Messungen intrinsischer Schichtspannungen.

Wafersäge

Hersteller: Disco Technologies Japan
Modell: DAD3350
Einrichtung: Professur für Halbleitertechnik

Focused Ion Beam (FIB)

Hersteller: FEI
Modell: Expida 1285
Einrichtung: Professur für Halbleitertechnik

Transcranial Magnetic Stimulation (TMS) System

Hersteller: MagVenture
Modell: X100
Einrichtung: Neuroimaging Centre

Stimulation coils MCF-B65 and MRi-B91

Mock-Scanner

Hersteller: Siemens
Modell: custom
Einrichtung: Neuroimaging Centre

MRI Simulator für Training- und Testzwecke.