Rasterkraftmikroskop Park Systems XE-100

Informationen

Name:	Rasterkraftmikroskop
Hersteller:	Park Systems
Modell:	XE-100
Einrichtung:	Hartmetalle und Cermets
Partner:	Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme (IKTS)

Beschreibung

Messbereich:

Scanbereich XY: 100x100 μm
Z: max 25 μm
max. Probengröße: 80x80x20 mm

Atomic Force Microscope (AFM ) is a scanning probe imaging technique allowing observation with atomic level resolution and study the physical properties such as mechanical, magnetic, electrical and the force measurements in a wide range of materials.

Link zu weiteren Informationen

https://youtu.be/UEIn5XlKGrQ

Ansprechpartner

Dipl.-Ing. Johannes Pötschke

Web:

http://www.ikts.fraunhofer.de/en/departments/materials_process_characterization/sintering_characterization/hard_metals_cer...

Telefon:

+49 351 2553-7641

Fax:

+49 351 2554-278

Notizen

This is also an instrument within the Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis (DFCNA).

Bilder

Vorschau	Beschreibung
	AFM/ SPM Park System XE-100 (Quelle: www.ikts.fraunhofer.de)

Letztes Update

Zuletzt aktualisiert am: 21. Juli 2017 um 14:07:50