Nach mehr als 10 Jahren Dienst wird das Dresden Technologieportal in naher Zukunft seinen Dienst einstellen.
Auf den Nachfolgedienst werden wir bei Inbetriebnahme hier verweisen.
Bitte aktualisieren Sie hier keine Geräteeinträge mehr, sondern nutzen Sie zukünftig das neue Portal.

Rasterkraftmikroskop Park Systems XE-100

Informationen

Name:	Rasterkraftmikroskop
Hersteller:	Park Systems
Modell:	XE-100
Einrichtung:	Hartmetalle und Cermets
Partner:	Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme (IKTS)

Beschreibung

Messbereich:

Scanbereich XY: 100x100 μm
Z: max 25 μm
max. Probengröße: 80x80x20 mm

Atomic Force Microscope (AFM ) is a scanning probe imaging technique allowing observation with atomic level resolution and study the physical properties such as mechanical, magnetic, electrical and the force measurements in a wide range of materials.

Link zu weiteren Informationen

https://youtu.be/UEIn5XlKGrQ

Ansprechpartner

Dipl.-Ing. Johannes Pötschke

Web:

http://www.ikts.fraunhofer.de/en/departments/materials_process_characterization/sintering_characterization/hard_metals_cer...

Telefon:

+49 351 2553-7641

Fax:

+49 351 2554-278

Notizen

This is also an instrument within the Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis (DFCNA).

Bilder

Vorschau	Beschreibung
	AFM/ SPM Park System XE-100 (Quelle: www.ikts.fraunhofer.de)

Letztes Update

Zuletzt aktualisiert am: 21. Juli 2017 um 14:07:50