Alle Geräte dieser Einrichtung anzeigen Atomic Force Microscope (AFM) / Atomkraftmikroskop Digital Instruments/Veeco Metrology (today Bruker Corp.) NanoScope Dimension 3000
Informationen
| Name: | Atomic Force Microscope (AFM) / Atomkraftmikroskop | |
| Hersteller: | Digital Instruments/Veeco Metrology (today Bruker Corp.) | |
| Modell: | NanoScope Dimension 3000 | |
| Einrichtung: | Micro Materials Center (MMC) | |
Ansprechpartner
Prof. Dr. Sven Rzepka (Head of Department)
Web:
Telefon:
+49 371 45001-421
Fax:
+49 371 45001-521
Notizen
This is an instrument within the Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis (DFCNA).
Bilder
| Vorschau | Beschreibung |
|---|---|
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Digital Instruments NanoScope Dimension 3000 AFM (Quelle: www.asmicro.com) |
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:13