Alle Geräte dieser Einrichtung anzeigen Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop) Carl Zeiss AG SUPRA® 60
Informationen
| Name: | Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop) | |
| Hersteller: | Carl Zeiss AG | |
| Modell: | SUPRA® 60 | |
| Einrichtung: | Micro Materials Center (MMC) | |
Beschreibung
Measure/Resolution:
SEM: 1 nm
Accessory/Options:
- max. 200 mm wafers
- BRUKER EDX
Link zu weiteren Informationen
http://www.zeiss.com/microscopy/en_de/products/scanning-electron-microscopes/supra-materials.html
Ansprechpartner
Prof. Dr. Sven Rzepka (Head of Department)
Web:
Telefon:
+49 371 45001-421
Fax:
+49 371 45001-521
Notizen
This is an instrument within the Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis (DFCNA).
Bilder
| Vorschau | Beschreibung |
|---|---|
|
FE-SEM Zeiss SUPRA® 60 (Quelle: www.zeiss.com) |
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:13