Atomic Force Microscope (AFM) / Rasterkraftmikroskop (RKM) TopoMetrix Explorer

Informationen

Name:	Atomic Force Microscope (AFM) / Rasterkraftmikroskop (RKM)
Hersteller:	TopoMetrix
Modell:	Explorer
Einrichtung:	Keramografie und Phasenanalyse
Partner:	Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme (IKTS)

Beschreibung

Das Atomic Force Microscope (AFM), auch als Rasterkraftmikroskop (RKM) bekannt, ist ein Typ des Rastersondenmikroskops (Scanning Probe Microscope - SPM).

Messgröße:

Topographie der Oberflächen bis in den Nanometerbereich

Messbreich:

max. 100μm x 100μm x 10μm

Ansprechpartner

Dr. Sören Höhn / Dipl.-Phys. Jochen Mürbe

Web:

http://www.ikts.fraunhofer.de/en/departments/materials_process_characterization/sintering_characterization/ceramography_ph...

Telefon:

+49 351 2553-7527

Fax:

+49 351 2554-122

Bilder

Vorschau	Beschreibung
	TopoMetrix AFM Explorer

Letztes Update

Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:15