10 Ergebnisse
Rasterelektronenmikroskop (REM) / Scanning Electron Microscope (SEM)
Hersteller: Leica Microsystems GmbH
Modell: S260
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse
Ion-Beam Sample Preparation for Electron Microscopy / Ionenstrahlpräparationsgerät
Hersteller: Leica Microsystems GmbH
Modell: EM RES 101
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse
Atomic Force Microscope (AFM) / Rasterkraftmikroskop (RKM)
Hersteller: TopoMetrix
Modell: Explorer
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse
Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM) /
Hersteller: Carl Zeiss Microscopy GmbH
Modell: Gemini 982
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse
Röntgenfluoreszenzspektrometer (RFA / XRF)
Hersteller: Bruker Corporation
Modell: S8 TIGER
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse
FE SEM/ FIB (REM/ FIB)
Hersteller: Carl Zeiss SMT AG
Modell: CrossBeam NVision 40 ®
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse
X-Ray Diffractometer (XRD) / Röntgendiffraktometer
Hersteller: Bruker Corporation
Modell: D8
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop)
Hersteller: Carl Zeiss AG
Modell: Ultra 55 PLUS
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse
X-Ray Diffraction System (XRD) / Röntgendiffraktometer mit Hochtemperaturkammer
Hersteller: GE Inspection Technologies
Modell: 3003 TT
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse

