10 Ergebnisse
Rasterelektronenmikroskop (REM) / Scanning Electron Microscope (SEM)
Hersteller: Leica Microsystems GmbH Modell: S260 Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse
Ion-Beam Sample Preparation for Electron Microscopy / Ionenstrahlpräparationsgerät
Hersteller: Leica Microsystems GmbH Modell: EM RES 101 Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse
Atomic Force Microscope (AFM) / Rasterkraftmikroskop (RKM)
Hersteller: TopoMetrix Modell: Explorer Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse
Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM) /
Hersteller: Carl Zeiss Microscopy GmbH Modell: Gemini 982 Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse
Röntgenfluoreszenzspektrometer (RFA / XRF)
Hersteller: Bruker Corporation Modell: S8 TIGER Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse
FE SEM/ FIB (REM/ FIB)
Hersteller: Carl Zeiss SMT AG Modell: CrossBeam NVision 40 ® Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse
X-Ray Diffractometer (XRD) / Röntgendiffraktometer
Hersteller: Bruker Corporation Modell: D8 Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop)
Hersteller: Carl Zeiss AG Modell: Ultra 55 PLUS Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse
X-Ray Diffraction System (XRD) / Röntgendiffraktometer mit Hochtemperaturkammer
Hersteller: GE Inspection Technologies Modell: 3003 TT Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse