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Profil anzeigen: Keramografie und Phasenanalyse

Geräte — Keramografie und Phasenanalyse

Fraunhofer Institute for Ceramic Technologies and Systems
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10 Ergebnisse

 
Leica SEM S260

Rasterelektronenmikroskop (REM) / Scanning Electron Microscope (SEM)

Hersteller: Leica Microsystems GmbH
Modell: S260
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse

 
Leica EM RES 101(Quelle: www.leica-microsystems.com)

Ion-Beam Sample Preparation for Electron Microscopy / Ionenstrahlpräparationsgerät

Hersteller: Leica Microsystems GmbH
Modell: EM RES 101
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse

 
TopoMetrix AFM Explorer

Atomic Force Microscope (AFM) / Rasterkraftmikroskop (RKM)

Hersteller: TopoMetrix
Modell: Explorer
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse

 
Carl Zeiss DSM Gemini 982 FESEM

Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM) /

Hersteller: Carl Zeiss Microscopy GmbH
Modell: Gemini 982
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse

 
Bruker S8 TIGER Röntgenfluoreszenzspektrometer (Quelle: www.bruker.com)

Röntgenfluoreszenzspektrometer (RFA / XRF)

Hersteller: Bruker Corporation
Modell: S8 TIGER
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse

 

Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX) mit ISIS, Si(Li)-Detektor

Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse

 
FE SEM/FIB Zeiss CrossBeam NVision 40® (Quelle: www.ikts.fraunhofer.de)

FE SEM/ FIB (REM/ FIB)

Hersteller: Carl Zeiss SMT AG
Modell: CrossBeam NVision 40 ®
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse

 
Bruker XRD D8 DISCOVER (Quelle: www.bruker.com)

X-Ray Diffractometer (XRD) / Röntgendiffraktometer

Hersteller: Bruker Corporation
Modell: D8
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse

 
FESEM Zeiss Ultra 55 PLUS (Quelle: www.ikts.fraunhofer.de)

Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop)

Hersteller: Carl Zeiss AG
Modell: Ultra 55 PLUS
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse

 
GE Diffractometer System XRD 3003 TT (Quelle: www.ge-mcs.com)

X-Ray Diffraction System (XRD) / Röntgendiffraktometer mit Hochtemperaturkammer

Hersteller: GE Inspection Technologies
Modell: 3003 TT
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse

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