Alle Geräte dieser Einrichtung anzeigen Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH Supra 25
Informationen
| Name: | Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop | |
| Hersteller: | Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH | |
| Modell: | Supra 25 | |
| Partner: | Fraunhofer-Institut für Werkzeugmaschinen und Umformtechnik (IWU) |
|
| Standort: | Fraunhofer IWU Dresden | |
Kurzbeschreibung
Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit EDX-Detektor zur chemischen Analyse und EBSD-Detektor zur Orientierungsmessung
Beschreibung
Das Rasterelektronenmikroskop Supra 25 mit EDX-Detektor für die chemische Analyse und mit dem EBSD-Detektor für die Orientierungsmessung kann für die umfassende Werkstoffcharakterisierung genutzt werden. Das Rasterelektronenmikroskop liefert dabei eine sehr hohe Vergrößerung (1 kV /3.5 nm; 15 kV/1.7 nm) bei hoher Tiefenschärfe.
Bei der EDX-Analyse wird eine Probe durch einen fokussierten Elektronenstrahl mit einer wählbaren (5 kV - 20 kV) Beschleunigungsspannung abgerastert und die entstehenden Wechselwirkungsprodukte werden analysiert.
Die EBSD-Analyse ist eine Untersuchungsmethode zur lokalen Charakterisierung der Kristallstruktur von Werkstoffen.
Optionen der Gerätenutzung
- Dieses Gerät steht Ihnen unter der Betreuung durch einen assistierenden Geräteverantwortlichen zur Nutzung zur Verfügung.
Ansprechpartner
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 13. September 2024 um 14:08:52