Arbeitsschwerpunkte

• Methodenentwicklung auf dem Gebiet der Röntgenmikrobeugung (auch am Synchrotron)
• Funktionswerkstoffe der Mikroelektronik
• Präzisions-Orientierungsbestimmung am Einzelkorn (KOSSEL-Technik)
• Bestimmung von kleinsten Symmetrieerniedrigungen (KOSSEL-Technik)
• Präzisions-Gitterkonstantenbestimmung und hochortsaufgelöste Eigenspannungsanalyse III. Art (KOSSEL-Technik)
• Phasenidentifizierung im Makro- und Mikrobereich
• Güteprüfung von massiven Einkristallen
• Orientierungsmapping und Texturanalyse im Makro- und Mikrobereich mittels EBSD
• Digitale Bildverarbeitung an Mikrobeugungsaufnahmen

Zusätzlich bieten wir die Abbildung von „inneren“ Materialdefekten in kompakten Proben und Bauteilen an (Röntgen- und Ultraschallinspektion). Auf dem Gebiet der Defektoskopie verfügen wir über Geräte zur Lokalisierung von Oberflächenfehlern und oberflächennahen Defekten sowie endoskopische Methoden zur visuellen Untersuchung von schwer zugänglichen Bereichen kompakter Bauteile.

Forschungsfelder

• Durchführung von röntgenographischen Mikrobeugungsuntersuchungen inkl. Interpretation der Ergebnisse
• Beratung zu allen Fragen der Röntgenanalytik einschließlich der Nutzung der Synchrotronstrahlung
• Zerstörungsfreie Prüfung massiver Bauteile (Röntgengrobstrukturuntersuchung) inkl. digitaler Bildaufbereitung und Interpretation
• Güteprüfung von Einkristallproben und einkristallinen massiven Bauteilen
• Mikrostrukturcharakterisierung mittels EBSD-Technik zur Charakterisierung des Gefüges hinsichtlich Orientierung, Textur, Kristallitgrößen und Korngrenzen
• Charakterisierung magnetischer Proben
• Gefügeuntersuchungen im Rasterelektronenmikroskop

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The Working Group for Physical Materials Diagnostics operates the "röntgenographisches Speziallabor" (specialist X-ray Lab). Key activities are:

• Methods development in the area of X-ray micro-diffraction (also at the synchrotron)
• Functional materials of microelectronics
• Highly precise orientation determination of single crystals (KOSSEL technique)
• Determination of the lowest crystal symmetry reduction (KOSSEL technique)
• Highly precise determination of lattice constants and highly spatially resolved residual stress analysis III. Type (KOSSEL technique)
• Phase identification on the macro- and micro-scale
• Quality control of massive single crystals
• Orientation mapping and texture analysis on the macro- and micro-scale using EBSD
• Digital image processing in micro diffraction images

In addition, we offer imaging of "inner" material defects in compact specimens and components (X-ray and ultrasonic inspection). In the field of defectoscopy, we have devices for the location of surface defect and near-surface defects as well as endoscopic methods for the visual examination of areas with difficult access of compact components.