X-Ray Diffraction System (XRD) / Röntgendiffraktometer mit Hochtemperaturkammer GE Inspection Technologies 3003 TT
Basic Information
Name: | X-Ray Diffraction System (XRD) / Röntgendiffraktometer mit Hochtemperaturkammer | |
Manufacturer: | GE Inspection Technologies | |
Model: | 3003 TT | |
Facility: | Ceramography and Phase Analysis | |
Partner: | Fraunhofer Institute for Ceramic Technologies and Systems (IKTS) |
Description
Messgröße:
- Dünnschichtmessung -> Phasengehalt im Bereich der Dünnschicht
Messbereich:
Dünnschichten von wenigen nm bis einige μm
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Points of Contact
Dr. Sören Höhn / Dipl.-Phys. Jochen Mürbe
Web:
Phone:
+49 351 2553-7527
Fax:
+49 351 2554-122
Notes
This is also an instrument within the Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis (DFCNA).
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Last updated at: 13 July 2017 at 11:54:13