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X-Ray Diffraction System (XRD) / Röntgendiffraktometer mit Hochtemperaturkammer GE Inspection Technologies 3003 TT

Informationen

Name:	X-Ray Diffraction System (XRD) / Röntgendiffraktometer mit Hochtemperaturkammer
Hersteller:	GE Inspection Technologies
Modell:	3003 TT
Einrichtung:	Keramografie und Phasenanalyse
Partner:	Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme (IKTS)

Beschreibung

Messgröße:

Dünnschichtmessung -> Phasengehalt im Bereich der Dünnschicht

Messbereich:

Dünnschichten von wenigen nm bis einige μm

Link zu weiteren Informationen

http://www.ge-mcs.com

Ansprechpartner

Dr. Sören Höhn / Dipl.-Phys. Jochen Mürbe

Web:

http://www.ikts.fraunhofer.de/en/departments/materials_process_characterization/sintering_characterization/ceramography_ph...

Telefon:

+49 351 2553-7527

Fax:

+49 351 2554-122

Notizen

This is also an instrument within the Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis (DFCNA).

Bilder

Vorschau	Beschreibung
	GE Diffractometer System XRD 3003 TT (Quelle: www.ge-mcs.com)

Letztes Update

Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:13