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Alle Geräte dieser Einrichtung anzeigen X-Ray Diffraction System (XRD) / Röntgendiffraktometer mit Hochtemperaturkammer GE Inspection Technologies 3003 TT
Informationen
| Name: | X-Ray Diffraction System (XRD) / Röntgendiffraktometer mit Hochtemperaturkammer | |
| Hersteller: | GE Inspection Technologies | |
| Modell: | 3003 TT | |
| Einrichtung: | Keramografie und Phasenanalyse | |
| Partner: | Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme (IKTS) |
|
Beschreibung
Messgröße:
- Dünnschichtmessung -> Phasengehalt im Bereich der Dünnschicht
Messbereich:
Dünnschichten von wenigen nm bis einige μm
Link zu weiteren Informationen
Ansprechpartner
Dr. Sören Höhn / Dipl.-Phys. Jochen Mürbe
Web:
Telefon:
+49 351 2553-7527
Fax:
+49 351 2554-122
Notizen
This is also an instrument within the Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis (DFCNA).
Bilder
| Vorschau | Beschreibung |
|---|---|
|
GE Diffractometer System XRD 3003 TT (Quelle: www.ge-mcs.com) |
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:13