Profil anzeigen: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM (ASSID)) Geräte — Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM (ASSID))
15 Ergebnisse
X–Ray Inspection System
Hersteller: Nordson DAGE Modell: Nanofocus 3D MicroScan Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
X - Ray Fluorescence (XRF) Spectrometer - Wafer Analyzer
Hersteller: Phillips (now: PANalytical B.V.) Modell: PW2830 Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
Measurement System / Oberflächenwiderstandsmesser
Hersteller: veonis Technologies GmbH/ CDE Modell: CDE ResMap Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
Schichtdickenmesssystem
Hersteller: Nova / Fries Research & Technology GmbH (FRT) Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
X-Ray Inspection System
Hersteller: Nordson DAGE Modell: XD7600NT Diamond FP Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
