Profil anzeigen: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM (ASSID)) Geräte — Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM (ASSID))
15 Ergebnisse
X–Ray Inspection System
Hersteller: Nordson DAGE
Modell: Nanofocus 3D MicroScan
Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
X - Ray Fluorescence (XRF) Spectrometer - Wafer Analyzer
Hersteller: Phillips (now: PANalytical B.V.)
Modell: PW2830
Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
Measurement System / Oberflächenwiderstandsmesser
Hersteller: veonis Technologies GmbH/ CDE
Modell: CDE ResMap
Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
Schichtdickenmesssystem
Hersteller: Nova / Fries Research & Technology GmbH (FRT)
Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
X-Ray Inspection System
Hersteller: Nordson DAGE
Modell: XD7600NT Diamond FP
Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
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