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Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop)
Hersteller: Hitachi HTA
Modell: SU8000
Einrichtung: Werkstoffkunde/ Analytik
Ionenpräparationssystem Cross Section Polisher
Hersteller: JEOL GmbH
Modell: SM-09010
Einrichtung: Werkstoffkunde/ Analytik
Glimmentladungsspektrometer (GD-OES)
Hersteller: HORIBA Jobin Yvon GmbH
Modell: GD-Profiler 2™
Einrichtung: Werkstoffkunde/ Analytik

