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Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop)
Hersteller: Hitachi HTA Modell: SU8000 Einrichtung: Werkstoffkunde/ Analytik
Ionenpräparationssystem Cross Section Polisher
Hersteller: JEOL GmbH Modell: SM-09010 Einrichtung: Werkstoffkunde/ Analytik
Spectroscopic Ellipsometer
Hersteller: SENTECH Instruments GmbH Modell: SE850 Einrichtung: Werkstoffkunde/ Analytik
Glimmentladungsspektrometer (GD-OES)
Hersteller: HORIBA Jobin Yvon GmbH Modell: GD-Profiler 2™ Einrichtung: Werkstoffkunde/ Analytik
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