Alle Geräte dieser Einrichtung anzeigen Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop) Hitachi HTA SU8000
Informationen
| Name: | Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop) | |
| Hersteller: | Hitachi HTA | |
| Modell: | SU8000 | |
| Einrichtung: | Werkstoffkunde/ Analytik | |
| Partner: | Fraunhofer-Institut für Organische Elektronik, Elektronenstrahl- und Plasmatechnik (FEP) |
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Beschreibung
Measure/Resolution:
1 nm (15 keV), 1.4 nm (1 keV)
Accessory/Options:
EBIC; EDS (Apollo XV; EDAX)
Link zu weiteren Informationen
Ansprechpartner
Dr. Olaf Zywitzki
Web:
Telefon:
+49 351 2586-180
Fax:
+49 351 258655-180
Notizen
This is an instrument within the Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis (DFCNA).
Bilder
| Vorschau | Beschreibung |
|---|---|
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Hitachi High-Tech FE SEM SU8000 (Quelle: www.fep.fraunhofer.de) |
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:12