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Geräte — Institut für Integrative Nanowissenschaften (IIN)

Leibniz Institute for Solid State and Materials Research
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2 Ergebnisse

 

CrossBeam Workstation FE SEM/ FIB (REM/ FIB)

Hersteller: Carl Zeiss SMT AG
Modell: CrossBeam NVision 40 ®
Einrichtung: Institut für Integrative Nanowissenschaften

 

Digital Scanning Electron Microscope (FESEM)

Hersteller: Carl Zeiss Microscopy GmbH
Modell: DSM 982 Gemini
Einrichtung: Institut für Integrative Nanowissenschaften

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