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CrossBeam Workstation FE SEM/ FIB (REM/ FIB)
Hersteller: Carl Zeiss SMT AG Modell: CrossBeam NVision 40 ® Einrichtung: Institut für Integrative Nanowissenschaften
Digital Scanning Electron Microscope (FESEM)
Hersteller: Carl Zeiss Microscopy GmbH Modell: DSM 982 Gemini Einrichtung: Institut für Integrative Nanowissenschaften
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