Alle Geräte dieser Einrichtung anzeigen CrossBeam Workstation FE SEM/ FIB (REM/ FIB) Carl Zeiss SMT AG CrossBeam NVision 40 ®
Informationen
| Name: | CrossBeam Workstation FE SEM/ FIB (REM/ FIB) | |
| Hersteller: | Carl Zeiss SMT AG | |
| Modell: | CrossBeam NVision 40 ® | |
| Einrichtung: | Institut für Integrative Nanowissenschaften (IIN) | |
| Partner: | Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung Dresden (IFW Dresden) |
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| Standort: | Room: B1U.23 | |
Beschreibung
The Workstation is combining a high resolution scanning electron microscope (GEMINI® electron-beam column) with a high performance focussed ion beam column. We use this machine to prepare highly polished transmission electron microscopy (TEM) lamellas.
Link zu weiteren Informationen
https://www.ifw-dresden.de/institutes/iin/laboratories/fib-sem/
Ansprechpartner
Prof. Dr. Oliver G. Schmidt/ Mrs. Kristina Krummer (Sec.)
Web:
E-Mail:
Telefon:
+49 (0)351 4659-810
Fax:
+49 (0)351 4659-782
Bilder
| Vorschau | Beschreibung |
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FE SEM/FIB Zeiss CrossBeam NVision 40® (Quelle: www.ifw-dresden.de) |
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:15