Nach mehr als 10 Jahren Dienst wird das Dresden Technologieportal in naher Zukunft seinen Dienst einstellen.
Auf den Nachfolgedienst werden wir bei Inbetriebnahme hier verweisen.
Bitte aktualisieren Sie hier keine Geräteeinträge mehr, sondern nutzen Sie zukünftig das neue Portal.
Auf den Nachfolgedienst werden wir bei Inbetriebnahme hier verweisen.
Bitte aktualisieren Sie hier keine Geräteeinträge mehr, sondern nutzen Sie zukünftig das neue Portal.
Alle Geräte dieser Einrichtung anzeigen CrossBeam Workstation FE SEM/ FIB (REM/ FIB) Carl Zeiss SMT AG CrossBeam NVision 40 ®
Informationen
| Name: | CrossBeam Workstation FE SEM/ FIB (REM/ FIB) | |
| Hersteller: | Carl Zeiss SMT AG | |
| Modell: | CrossBeam NVision 40 ® | |
| Einrichtung: | Institut für Neuartige Elektronik-Technologien (IET) | |
| Partner: | Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung Dresden (IFW Dresden) |
|
| Standort: | Room: B1U.23 | |
Beschreibung
The Workstation is combining a high resolution scanning electron microscope (GEMINI® electron-beam column) with a high performance focussed ion beam column. We use this machine to prepare highly polished transmission electron microscopy (TEM) lamellas.
Link zu weiteren Informationen
https://www.ifw-dresden.de/institutes/iin/laboratories/fib-sem/
Ansprechpartner
Bilder
| Vorschau | Beschreibung |
|---|---|
|
FE SEM/FIB Zeiss CrossBeam NVision 40® (Quelle: www.ifw-dresden.de) |
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:15