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Röntgenkleinwinkeldiffraktometer (SAXS) Bruker Corporation Nanostar

Informationen

Name: Röntgenkleinwinkeldiffraktometer (SAXS)
Hersteller: Bruker Corporation
Modell: Nanostar
Einrichtung: Professur für Anorganische Chemie I (ACI)
Partner: Technische Universität Dresden (TUD)
Partner: Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik (IWS)

Kurzbeschreibung

Röntgenkleinwinkeldiffraktometer zur Bestimmung von Nanostrukturen von 1 nm bis rund 125 nm und nanostrukturierten Flächen.

Beschreibung

Röntgenkleinwinkeldiffraktometer zur Bestimmung von Nanostrukturen von 1 nm bis rund 125 nm und nanostrukturierten Flächen. Große Probenkammer mit Platz für verschiedene Probenhalter, Probenwechsler.

 

Strahlung:

Cu-Kα1

Detektor:

VÅNTEC-2000, großer 2D-Detektor mit echter Photon-Zählfunktion.

Link zu weiteren Informationen

https://www.bruker.com/de/products/x-ray-diffraction-and-elemental-analysis/x-ray-diffraction/nanostar/overview.html

Ansprechpartner

Prof. Dr. rer. nat. habil. S. Kaskel/ C. Herrmann (Sec.)
E-Mail:
Telefon:
+49 351 463-35955
Fax:
+49 351 463-37287

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Letztes Update

Zuletzt aktualisiert am: 16. Mai 2018 um 15:54:49