Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) JEOL GmbH JSM-7800F Prime (SEM) FE REM

Informationen

Name:	Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM)
Hersteller:	JEOL GmbH
Modell:	JSM-7800F Prime (SEM) FE REM
Einrichtung:	Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung
Partner:	Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik (IWS)

Ultrahochauflösendes analytisches Feldemissionsrasterelektronenmikroskop

Ausstattung / Technische Daten
- Emission: In-lens-thermische-Feldemissionselektronenkathode
- Beschleunigungsspannungen: 10 V bis 30 kV
- Auflösung: 0,7 nm (bis zu 1kV)
- Detektoren: in-lens SE und BSE, hochauflösender BSE-Detektor, STEM
- Zusätzlicher „Gentle-Beam-Super-High (GBSH)“ – Modus zur Reduzierung der Linsenaberrationen
- Zusatzausstattung: energiedispersive und wellenlängendispersive Röntgenanalyse (EDX und WDX) von Oxford Instruments
Methoden
- Abbildung und Analyse nanoskaliger Strukturdetails
- Abbildung und Analyse magnetischer Proben bei niedriger Beschleunigungsspannung
- Abbildung dünner, elektronentransparenter Proben im STEM- Modus
- Ermittlung der chemischen Zusammensetzung, einschließlich leichter Elemente (B, C, N, O)

Dieses Gerät wird im Rahmen einer Dienstleistung oder Forschungsleistung (Kooperation) verwendet.

Prof. Dr. Martina Zimmermann

Web:

Telefon:

+49 351 83391-3573

Name	Vorschau	Aktionen
Entwicklung und Bewertung von prozess- und anwendungsspezifischen Prüfstrategien
Hochauflösende, abbildende und analytische Charakterisierung von lasermodifizierten Randzonen, Fügegrenzflächen, Dünnschichtsystemen, Nanotubes und Nanopartikeln
Produktbegleitende Qualitätssicherung
Versagens- und Schadensfallanalysen
Metallographische, elektronenmikroskopische und mikroanalytische Charakterisierung der Realstruktur von Metallen, Keramiken und Verbundwerkstoffen

Vorschau	Beschreibung
Quelle: Fraunhofer IWS	Ultrahochauflösendes analytisches Feldemissionsrasterelektronenmikroskop - JEOL JSM-7800F Prime

Zuletzt aktualisiert am: 5. August 2019 um 10:21:21