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Hochauflösende, abbildende und analytische Charakterisierung von lasermodifizierten Randzonen, Fügegrenzflächen, Dünnschichtsystemen, Nanotubes und Nanopartikeln

Informationen

Name:	Hochauflösende, abbildende und analytische Charakterisierung von lasermodifizierten Randzonen, Fügegrenzflächen, Dünnschichtsystemen, Nanotubes und Nanopartikeln
Einrichtung:	Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung
Partner:	Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik (IWS)

Zugeordnete Geräte

Name	Vorschau	Aktionen
Analytisches Zweistrahlsystem Focused Ion Beam und Rasterelektronenmikroskop
Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM)
Elektronenmikroskopisches Präparationslabor
Analytisches Transmissionselektronenmikroskop 200kV
Metallographielabor
Raster­elektronen­mikroskop (REM)

Bilder

Vorschau	Beschreibung
Quelle: Fraunhofer IWS	Einbau einer Probe am Feldemissions-REM