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Technologieportal

 
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Nach mehr als 10 Jahren Dienst wird das Dresden Technologieportal in naher Zukunft seinen Dienst einstellen.
Auf den Nachfolgedienst werden wir bei Inbetriebnahme hier verweisen.
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Hochauflösende, abbildende und analytische Charakterisierung von lasermodifizierten Randzonen, Fügegrenzflächen, Dünnschichtsystemen, Nanotubes und Nanopartikeln

Informationen

Name: Hochauflösende, abbildende und analytische Charakterisierung von lasermodifizierten Randzonen, Fügegrenzflächen, Dünnschichtsystemen, Nanotubes und Nanopartikeln
Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung
Partner: Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik (IWS)

Ansprechpartner

Zugeordnete Geräte

Name Vorschau Aktionen
Analytisches Zweistrahlsystem Focused Ion Beam und Rasterelektronenmikroskop
Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM)
Elektronenmikroskopisches Präparationslabor
Analytisches Transmissionselektronenmikroskop 200kV
Metallographielabor
Raster­elektronen­mikroskop (REM)

Bilder

Letztes Update

Zuletzt aktualisiert am: 5. August 2019 um 11:29:36