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Raster­elektronen­mikroskop (REM) JEOL GmbH JSM-6610LV

Informationen

Name: Raster­elektronen­mikroskop (REM)
Hersteller: JEOL GmbH
Modell: JSM-6610LV
Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung
Partner: Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik (IWS)

Kurzbeschreibung

Analytisches Rasterelektronenmikroskop mit „Low-Vacuum“-Betrieb

Beschreibung

  • Ausstattung / Technische Daten
    • Emission: Wolframkathode
    • Beschleunigungsspannung: 1 kV bis 30 kV
    • Auflösung: 3 nm (30 kV), 15 nm (1 kV)
    • Detektoren: SE, BSE
    • „Low-Vacuum“-Betrieb für die Untersuchung schlecht leitender Proben
    • Zusatzausstattung: EDX Detektor (Oxford Instruments)
    • große Probenkammer für Probengrößen bis 200 mm
  • Methoden
    • Rasterelektronenmikroskopische Abbildung von Probenoberflächen 
    • Analyse vielfältiger Gefügemerkmale metallischer und nichtmetallischer Werkstoffe
    • Ortsauflösende Ermittlung der chemischen Zusammensetzung einschließlich leichter Elemente (B, C, N, O)

Optionen der Gerätenutzung

Ansprechpartner

Notizen

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Zugeordnete Dienstleistungen

Name Vorschau Aktionen
Entwicklung und Bewertung von prozess- und anwendungsspezifischen Prüfstrategien
Versagens- und Schadensfallanalysen
Hochauflösende, abbildende und analytische Charakterisierung von lasermodifizierten Randzonen, Fügegrenzflächen, Dünnschichtsystemen, Nanotubes und Nanopartikeln
Produktbegleitende Qualitätssicherung
Metallographische, elektronenmikroskopische und mikroanalytische Charakterisierung der Realstruktur von Metallen, Keramiken und Verbundwerkstoffen

Bilder

Letztes Update

Zuletzt aktualisiert am: 5. August 2019 um 10:16:43