Rasterelektronenmikroskop (REM) JEOL GmbH JSM-6610LV
Informationen
Name: | Rasterelektronenmikroskop (REM) | |
Hersteller: | JEOL GmbH | |
Modell: | JSM-6610LV | |
Einrichtung: | Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung | |
Partner: | Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik (IWS) |
Kurzbeschreibung
Analytisches Rasterelektronenmikroskop mit „Low-Vacuum“-Betrieb
Beschreibung
- Ausstattung / Technische Daten
- Emission: Wolframkathode
- Beschleunigungsspannung: 1 kV bis 30 kV
- Auflösung: 3 nm (30 kV), 15 nm (1 kV)
- Detektoren: SE, BSE
- „Low-Vacuum“-Betrieb für die Untersuchung schlecht leitender Proben
- Zusatzausstattung: EDX Detektor (Oxford Instruments)
- große Probenkammer für Probengrößen bis 200 mm
- Methoden
- Rasterelektronenmikroskopische Abbildung von Probenoberflächen
- Analyse vielfältiger Gefügemerkmale metallischer und nichtmetallischer Werkstoffe
- Ortsauflösende Ermittlung der chemischen Zusammensetzung einschließlich leichter Elemente (B, C, N, O)
Optionen der Gerätenutzung
- Dieses Gerät wird im Rahmen einer Dienstleistung oder Forschungsleistung (Kooperation) verwendet.
Ansprechpartner
Prof. Dr. Martina Zimmermann
Web:
Telefon:
+49 351 83391-3573
Notizen
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Zugeordnete Dienstleistungen
Bilder
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 5. August 2019 um 10:16:43