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Analytisches Transmissionselektronenmikroskop 200kV JEOL JEM-2100Plus

Informationen

Name:	Analytisches Transmissionselektronenmikroskop 200kV
Hersteller:	JEOL
Modell:	JEM-2100Plus
Einrichtung:	Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung
Partner:	Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik (IWS)

Kurzbeschreibung

Analytisches Transmissionselektronenmikroskop 200kV - JEOL JEM-2100Plus

Beschreibung

Ausstattung / Technische Daten
- Emission: LaB₆-Kathode
- Beschleunigungsspannung: 200 kV
- Hochauflösender analytischer Polschuh
  - Punktauflösung 0,23 nm
  - Linienauflösung 0,14 nm
  - direkte Abbildung der atomaren Struktur
- Probenkippung ± 30°
- 4-stufiges Kondensorsystem zur flexiblen Strahlsteuerung
- Weitwinkelkamera für schnelles Live-Bild, Übersichten und Beugungsaufnahmen
- Hochauflösende Kamera mit ausgezeichneter Bildqualität
- Zusatzausstattung: Multi-Scan-Kamerasysteme und EDX-Mikroanalysesystem mit Driftkorrektur (JED2300T)
Methoden
- konventionelle Transmissionselektronenmikroskopie
- hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie (HRTEM)
- Elektronenbeugung: Feinbereichsbeugung (SAD), Nanobeugung (NBD)
- Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM): Hell- und Dunkelfeldabbildung (HAADF)
- Lokale Elementanalyse mittels EDX (≥ 10 nm); Punkt-Analyse, Linescan, Mapping, Sequentielle Analyse,
- Analyse des inneren Aufbaus von Werkstoffen: Gitterdefekte, Korngrenzen, Ausscheidungen

Optionen der Gerätenutzung

Dieses Gerät wird im Rahmen einer Dienstleistung oder Forschungsleistung (Kooperation) verwendet.

Ansprechpartner

Prof. Dr. Martina Zimmermann

Web:

http://www.iws.fraunhofer.de/en/business_fields/materials_characterization/service_offers.html

Telefon:

+49 351 83391-3573

Zugeordnete Dienstleistungen

Name	Vorschau	Aktionen
Versagens- und Schadensfallanalysen
Hochauflösende, abbildende und analytische Charakterisierung von lasermodifizierten Randzonen, Fügegrenzflächen, Dünnschichtsystemen, Nanotubes und Nanopartikeln
Entwicklung und Bewertung von prozess- und anwendungsspezifischen Prüfstrategien
Produktbegleitende Qualitätssicherung
Metallographische, elektronenmikroskopische und mikroanalytische Charakterisierung der Realstruktur von Metallen, Keramiken und Verbundwerkstoffen

Bilder

Vorschau	Beschreibung
Quelle: Fraunhofer IWS	Analytisches Transmissionselektronenmikroskop 200kV - JEOL JEM-2100Plus

Letztes Update

Zuletzt aktualisiert am: 5. August 2019 um 10:26:56