Alle Geräte dieser Einrichtung anzeigen Analytisches Transmissionselektronenmikroskop 200kV JEOL JEM-2100Plus
Informationen
| Name: | Analytisches Transmissionselektronenmikroskop 200kV | |
| Hersteller: | JEOL | |
| Modell: | JEM-2100Plus | |
| Einrichtung: | Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung |
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| Partner: | Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik (IWS) |
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Kurzbeschreibung
Analytisches Transmissionselektronenmikroskop 200kV - JEOL JEM-2100Plus
Beschreibung
- Ausstattung / Technische Daten
- Emission: LaB6-Kathode
- Beschleunigungsspannung: 200 kV
- Hochauflösender analytischer Polschuh
- Punktauflösung 0,23 nm
- Linienauflösung 0,14 nm
- direkte Abbildung der atomaren Struktur
- Probenkippung ± 30°
- 4-stufiges Kondensorsystem zur flexiblen Strahlsteuerung
- Weitwinkelkamera für schnelles Live-Bild, Übersichten und Beugungsaufnahmen
- Hochauflösende Kamera mit ausgezeichneter Bildqualität
- Zusatzausstattung: Multi-Scan-Kamerasysteme und EDX-Mikroanalysesystem mit Driftkorrektur (JED2300T)
- Methoden
- konventionelle Transmissionselektronenmikroskopie
- hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie (HRTEM)
- Elektronenbeugung: Feinbereichsbeugung (SAD), Nanobeugung (NBD)
- Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM): Hell- und Dunkelfeldabbildung (HAADF)
- Lokale Elementanalyse mittels EDX (≥ 10 nm); Punkt-Analyse, Linescan, Mapping, Sequentielle Analyse,
- Analyse des inneren Aufbaus von Werkstoffen: Gitterdefekte, Korngrenzen, Ausscheidungen
Optionen der Gerätenutzung
- Dieses Gerät wird im Rahmen einer Dienstleistung oder Forschungsleistung (Kooperation) verwendet.
Ansprechpartner
Prof. Dr. Martina Zimmermann
Web:
Telefon:
+49 351 83391-3573
Zugeordnete Dienstleistungen
Bilder
| Vorschau | Beschreibung |
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Quelle: Fraunhofer IWS |
Analytisches Transmissionselektronenmikroskop 200kV - JEOL JEM-2100Plus |
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 5. August 2019 um 10:26:56