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X-Ray Diffractometer (XRD) / Röntgendiffraktometer Bruker AXS GmbH D8 ADVANCE

Informationen

Name:	X-Ray Diffractometer (XRD) / Röntgendiffraktometer
Hersteller:	Bruker AXS GmbH
Modell:	D8 ADVANCE
Einrichtung:	EUV- und Röntgenoptik
Partner:	Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik (IWS)

Beschreibung

Technical data

X-ray tube (Cu, Mo, Co, ...) with 0.04 x 12 mm² long-fine focus or 0.4 x 0.4 mm² point focus
sample holder: fixed, Ø = 150 mm
scintillation detector
beam divergence: Δθ < 0.02 °
use of Ni/C - Goebel mirror for:
- monochromization and suppression of fluorescence radiation
- suppression of Cu-Kß radiation
- simple adjustment and short measuring times for parallel beam geometry

Application

X-ray reflectometry at thin layer systems to determine thickness, roughness and density
X-ray diffractometry at powders and polycrystalline layers to analyze phases with respect to quantity and quality
development of new optical systems

Link zu weiteren Informationen

https://www.bruker.com/products/x-ray-diffraction-and-elemental-analysis/x-ray-diffraction/d8-advance/overview.html

Ansprechpartner

Dr. Stefan Braun

Web:

http://www.iws.fraunhofer.de/en/business_fields/pvd_nanotechnology/xray_euv_optics.html

Telefon:

+49 351 83391-3432

Fax:

+49 351 83391-3314

Notizen

This is an instrument within the Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis (DFCNA).

Bilder

Vorschau	Beschreibung
	X-Ray Diffractometer Bruker D8 ADVANCE (Quelle: www.bruker.com)

Letztes Update

Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:12