Ergebnisse pro Seite:
Sortierung:
3 Ergebnisse
Thin Film Stress Measurement System / Eigenspannungsmessgerät dünner Schichten
Hersteller: Toho Technology Inc. Modell: FLX-2320 Einrichtung: EUV- und Röntgenoptik
X-Ray Diffractometer (XRD) / Röntgendiffraktometer
Hersteller: Bruker AXS GmbH Modell: D8 ADVANCE Einrichtung: EUV- und Röntgenoptik
X-Ray Diffractometer (XRD) / Röntgendiffraktometer
Hersteller: Siemens AG (now: Bruker AXS GmbH) Modell: D5005 Einrichtung: EUV- und Röntgenoptik
1