Alle Geräte dieser Einrichtung anzeigen Wafer Testing And Metrology - Wafer Surface Profiler Veeco Instruments Inc. Dektak V 300-Si
Informationen
| Name: | Wafer Testing And Metrology - Wafer Surface Profiler | |
| Hersteller: | Veeco Instruments Inc. | |
| Modell: | Dektak V 300-Si | |
| Partner: | Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM (ASSID)) |
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Ansprechpartner
Notizen
This is an instrument within the Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis (DFCNA).
Bilder
| Vorschau | Beschreibung |
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Wafer Surface Profiler Veeco Dektak V 300-Si (Quelle: www.caeonline.com) |
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:13