Profil anzeigen: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM (ASSID)) Geräte — Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM (ASSID))
15 Ergebnisse
2D / 3D Confocal Measuring System
Hersteller: confovis GmbH
Modell: ConfoDisc CL200/CL300
Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
2D / 3D Wafer Inspection System
Hersteller: Camtek Ltd.
Modell: Falcon 530
Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop)
Hersteller: Carl Zeiss SMT AG
Modell: Leo Gemini 1530
Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
Bow/ Warpage/ TTV
Hersteller: Sigmatech
Modell: SIGMATECH 92H-IR-BD
Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
Energy Dispersive X-Ray (EDX) Spectroscope
Hersteller: Oxford Instruments
Modell: INCA x-act
Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
Pull- und Schertester
Hersteller: Nordson DAGE
Modell: 4000
Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
Waferprober
Hersteller: SÜSS MicroTec (now: Cascade Microtech)
Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
Bruchtester
Hersteller: Zwick GmbH & Co. KG
Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
TSV-Tiefenmessung
Hersteller: Filmtech
Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
Wafer Testing And Metrology - Wafer Surface Profiler
Hersteller: Veeco Instruments Inc.
Modell: Dektak V 300-Si
Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration
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