Nach mehr als 10 Jahren Dienst wird das Dresden Technologieportal in naher Zukunft seinen Dienst einstellen.
Auf den Nachfolgedienst werden wir bei Inbetriebnahme hier verweisen.
Bitte aktualisieren Sie hier keine Geräteeinträge mehr, sondern nutzen Sie zukünftig das neue Portal.

Rasterelektronenmikroskop (REM) / Scanning Electron Microscope (SEM) Leica Microsystems GmbH S260

Informationen

Name:	Rasterelektronenmikroskop (REM) / Scanning Electron Microscope (SEM)
Hersteller:	Leica Microsystems GmbH
Modell:	S260
Einrichtung:	Keramografie und Phasenanalyse
Partner:	Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme (IKTS)

Beschreibung

Messgrößen:

Bruchanalyse
Oberfläche

Messbereich:

von 1mm bis 100nm

Ansprechpartner

Dr. Sören Höhn / Dipl.-Phys. Jochen Mürbe

Web:

http://www.ikts.fraunhofer.de/en/departments/materials_process_characterization/sintering_characterization/ceramography_ph...

Telefon:

+49 351 2553-7527

Fax:

+49 351 2554-122

Bilder

Vorschau	Beschreibung
	Leica SEM S260

Letztes Update

Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:15