Alle Geräte dieser Einrichtung anzeigen Rasterelektronenmikroskop (REM) / Scanning Electron Microscope (SEM) Leica Microsystems GmbH S260
Informationen
| Name: | Rasterelektronenmikroskop (REM) / Scanning Electron Microscope (SEM) | |
| Hersteller: | Leica Microsystems GmbH | |
| Modell: | S260 | |
| Einrichtung: | Keramografie und Phasenanalyse | |
| Partner: | Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme (IKTS) |
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Beschreibung
Messgrößen:
- Bruchanalyse
- Oberfläche
Messbereich:
von 1mm bis 100nm
Ansprechpartner
Dr. Sören Höhn / Dipl.-Phys. Jochen Mürbe
Web:
Telefon:
+49 351 2553-7527
Fax:
+49 351 2554-122
Bilder
| Vorschau | Beschreibung |
|---|---|
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Leica SEM S260 |
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:15