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Ion-Beam Sample Preparation for Electron Microscopy / Ionenstrahlpräparationsgerät Leica Microsystems GmbH EM RES 101

Informationen

Name: Ion-Beam Sample Preparation for Electron Microscopy / Ionenstrahlpräparationsgerät
Hersteller: Leica Microsystems GmbH
Modell: EM RES 101
Einrichtung: Keramografie und Phasenanalyse
Partner: Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme (IKTS)

Beschreibung

Ion beam preparation for thinning, cleaning and in-situ coating in one single system.

 

Messbereich:

  • Größe 10x10x10mm
  • Größe 4x3x1 mm

Link zu weiteren Informationen

http://www.leica-microsystems.com/products/sample-preparation-for-electron-microscopy/industrial-materials/solid-state-technology/details/product/leica-em-res101/

Ansprechpartner

Dr. Sören Höhn / Dipl.-Phys. Jochen Mürbe
Web:
http://www.ikts.fraunhofer.de/en/departments/materials_process_characterization/sintering_characterization/ceramography_ph...
Telefon:
+49 351 2553-7527
Fax:
+49 351 2554-122

Bilder

Letztes Update

Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:15