Nach mehr als 10 Jahren Dienst wird das Dresden Technologieportal in naher Zukunft seinen Dienst einstellen.
Auf den Nachfolgedienst werden wir bei Inbetriebnahme hier verweisen.
Bitte aktualisieren Sie hier keine Geräteeinträge mehr, sondern nutzen Sie zukünftig das neue Portal.
Auf den Nachfolgedienst werden wir bei Inbetriebnahme hier verweisen.
Bitte aktualisieren Sie hier keine Geräteeinträge mehr, sondern nutzen Sie zukünftig das neue Portal.
Alle Geräte dieser Einrichtung anzeigen Transmission Electron Microscope (TEM) Philips CM20 FEG
Informationen
| Name: | Transmission Electron Microscope (TEM) | |
| Hersteller: | Philips | |
| Modell: | CM20 FEG | |
| Einrichtung: | Micro- and Nanostructures | |
| Partner: | Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung Dresden (IFW Dresden) |
|
Beschreibung
Our TEM CM 20 FEG operates at 200 kV accelerating voltage and is equipped with:
- Field emission gun (FEG)
- Twin objective lens
- Scanning unit (STEM) with bright field and dark field detector
- Energy dispersive X-ray spectrometer (EDXS) (Noran Voyager IIa)
- Electron energy-loss spectrometer (Gatan PEELS 666)
- TV-rate camera (TVIPS FastScan F114NX)
- Secondary electron detector
- Various specimen holders e.g. for heating, cooling, straining
Link zu weiteren Informationen
Ansprechpartner
Dr. Thomas Gemming/ Mrs. B. Präßler-Wüstling (Sec.)
Web:
E-Mail:
Telefon:
+49 (0) 351 4659-217
Fax:
+49 (0) 351 4659-452
Bilder
| Vorschau | Beschreibung |
|---|---|
|
TEM CM 20 FEG (Quelle: www.ifw-dresden.de) |
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:15