Funktionsprinzip

Das Rasterkraftmikroskop ist ein Messgerät zur Charakterisierung mechanischer (Steifigkeit, Reibung), elektrischer (Kapazität, elektrostatische Kräfte), magnetischer und optischer spektroskopischer Eigenschaften. Eine nanoskopisch kleine Nadel die am sogenannten Cantilever befestigt ist rastert zeilenweise die Oberfläche einer Probe ab. Durch die Oberflächenstruktur bewegt sich die Nadel und damit der Cantilever beim überfahren der Proben. Die Bewegung bzw. Auslenkung des Cantilevers wird optisch vermessen und ermöglicht eine Auflösung im Nanometerbereich sowie eine Abbildung der Probenoberfläche.