Auflichtmikroskop Zeiss Axio Imager M2m

Hersteller: Zeiss
Modell: Axio Imager M2m
Einrichtung: Dresden Center for Nanoanalysis

Reflected Light microscope with up to 150x objective and Brightfield/Darkfield/Polarization/C-DIC imaging modes

Analytical FE-SEM

Hersteller: Zeiss
Modell: Gemini 500
Einrichtung: Dresden Center for Nanoanalysis

"Mit GeminiSEM 500 erhalten Sie ein höheres Detektionssignal und mehr Details, insbesondere bei niedrigen Spannungen. Sein druckvariabler Modus vermittelt Ihnen das Gefühl, im Hochvakuum zu arbeiten."

Rasterelektronenmikroskop (FIB/ SEM)

Hersteller: FEI (now Thermo Fisher)
Modell: Helios Nanolab 660
Einrichtung: Dresden Center for Nanoanalysis

The FEI Helios 660 is a state-of-the-art FIB/SEM tool with an electron image resolution of 0.9nm between 1kV and 30kV and a resolution of 1.5nm between 350V and 1kV with numerous in-situ addons.

Submikrometer Röntgentomograph (XRM, XCT)

Hersteller: Zeiss/ Xradia
Modell: Versa 520
Einrichtung: Dresden Center for Nanoanalysis

The Versa 520 is a state-of-the-art sub-micron X-ray tomograph with an ultimate spatial resolution of 700nm. It non-destructively creates full 3D images of samples and their interiors.

Oberflächen-Plasmonenresonanz-Spektroskop (SPR)

Hersteller: Fraunhofer IWS
Einrichtung: Professur für Materialwissenschaft und Nanotechnik

UV-VIS Fluoreszenzspektrometer

Hersteller: Varian Inc. (now: Agilent Technologies)
Modell: Cary 100
Einrichtung: Professur für Materialwissenschaft und Nanotechnik

Rasterkraftmikroskop (AFM)

Hersteller: Digital Instruments
Einrichtung: Professur für Materialwissenschaft und Nanotechnik

Ultramikrotom

Einrichtung: Professur für Materialwissenschaft und Nanotechnik

Fluoreszenzspektrometer

Hersteller: ThermoScientific
Modell: NanoDrop 3300
Einrichtung: Professur für Materialwissenschaft und Nanotechnik

Fluoreszenzmikroskop

Hersteller: Olympus Deutschland GmbH
Modell: BX43
Einrichtung: Professur für Materialwissenschaft und Nanotechnik