128 Ergebnisse
X-ray Microscope (XRM)
Hersteller: Xradia (now Carl Zeiss Ultra)
Modell: NanoXCT-100
Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM) with focused ion beam (REM/ FIB)
Hersteller: Carl Zeiss SMT AG
Modell: CrossBeam NVision 40 ®
Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
Helios 5 PFIB CXe DualBeam
Hersteller: ThermoFisher
Modell: Helios 5 PFIB CXe
Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
BET Accelerated Surface Area and Porosimetry (ASAP) Analyzer
Hersteller: Micromeritics GmbH
Modell: ASAP 2010 BET
Einrichtung: Pulver- und Suspensionscharakterisierung
Elektromechanische Zug-Druck-Prüfmaschine
Hersteller: ZwickRoell GmbH
Modell: Z250
Einrichtung: Professur für Anorganisch-Nichtmetallische Werkstoffe
Im Hauptprüfraum sind Prüfungen bis 250 kN möglich, der seitliche Prüfraum erlaubt Prüfungen bis 50 kN.
HG-Porosimeter / Quecksilber Porosimeter
Hersteller: Micromeritics GmbH
Modell: AutoPore IV 9500
Einrichtung: Pulver- und Suspensionscharakterisierung
Accelerated Surface Area and Porosimetry (ASAP) Analyzer
Hersteller: Micromeritics GmbH
Modell: ASAP 2020 MP
Einrichtung: Pulver- und Suspensionscharakterisierung
Rohrofen mit Sourcemeter und Nanovoltmeter
Hersteller: Tektronix GmbH / Keithley
Modell: 2611A / 2182A
Einrichtung: Mechanische Werkstoffprüfung
Rohrofen mit Multimeter Messgerät zur Bestimmung des Widerstands
Hersteller: Tektronix GmbH / Keithley
Modell: 2750
Einrichtung: Mechanische Werkstoffprüfung