Alle Geräte dieser Einrichtung anzeigen Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop) JEOL GmbH JSM-6700F
Informationen
| Name: | Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop) | |
| Hersteller: | JEOL GmbH | |
| Modell: | JSM-6700F | |
| Einrichtung: | MEMS Technologies Dresden | |
| Partner: | Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme (IPMS) |
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Ansprechpartner
Mr. Michael Müller
Web:
Telefon:
+49 351 8823-130
Fax:
+49 351 8823-393
Notizen
This is an instrument within the Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis (DFCNA).
Bilder
| Vorschau | Beschreibung |
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FE SEM Jeol JSM-6700F |
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:12