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Auf den Nachfolgedienst werden wir bei Inbetriebnahme hier verweisen.
Bitte aktualisieren Sie hier keine Geräteeinträge mehr, sondern nutzen Sie zukünftig das neue Portal.
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Alle Geräte dieser Einrichtung anzeigen Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) Applied Materials Verity Lite
Informationen
| Name: | Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) | |
| Hersteller: | Applied Materials | |
| Modell: | Verity Lite | |
| Einrichtung: | 200 mm MEMS-Reinraum | |
| Partner: | Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme (IPMS) |
|
| Inventarnummer: | MTR-CDS01 | |
Optionen der Gerätenutzung
- Dieses Gerät wird im Rahmen einer Dienstleistung oder Forschungsleistung (Kooperation) verwendet.
Ansprechpartner
Zugeordnete Dienstleistungen
| Name | Vorschau | Aktionen |
|---|---|---|
| Metrologie und Inspektion |
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 14. Januar 2025 um 14:25:28