Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) Applied Materials Verity Lite
Informationen
Name: | Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) | |
Hersteller: | Applied Materials | |
Modell: | Verity Lite | |
Einrichtung: | 200 mm MEMS-Reinraum | |
Partner: | Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme (IPMS) | |
Inventarnummer: | MTR-CDS01 |
Optionen der Gerätenutzung
- Dieses Gerät wird im Rahmen einer Dienstleistung oder Forschungsleistung (Kooperation) verwendet.
Ansprechpartner
Zugeordnete Dienstleistungen
Name | Vorschau | Aktionen |
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Metrologie und Inspektion |
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 14. Januar 2025 um 14:25:28