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Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) Applied Materials Verity Lite

Informationen

Name: Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM)
Hersteller: Applied Materials
Modell: Verity Lite
Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Partner: Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme (IPMS)
Inventarnummer: MTR-CDS01

Optionen der Gerätenutzung

Ansprechpartner

Jörg Amelung
E-Mail:
Telefon:
+49 351 88 23-4691

Zugeordnete Dienstleistungen

Name Vorschau Aktionen
Metrologie und Inspektion

Letztes Update

Zuletzt aktualisiert am: 14. Januar 2025 um 14:25:28