Alle Geräte dieser Einrichtung anzeigen Rasterkraftmikroskopie (AFM) Veeco; Park Systems Nanoscope D3100; NX-Wafer
Informationen
| Name: | Rasterkraftmikroskopie (AFM) | |
| Hersteller: | Veeco; Park Systems | |
| Modell: | Nanoscope D3100; NX-Wafer | |
| Einrichtung: | 200 mm MEMS-Reinraum | |
| Partner: | Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme (IPMS) |
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| Inventarnummer: | MTR-AFM01; MTR-AFM02 | |
Beschreibung
Atomic Force Microscopy (AFM) is a high-resolution imaging technique used in semiconductor manufacturing to measure surface topography and properties at the nanometer scale by scanning a sharp tip over the sample surface. We offer Surface Topology measurement with or withour automated handling.
Optionen der Gerätenutzung
- Dieses Gerät wird im Rahmen einer Dienstleistung oder Forschungsleistung (Kooperation) verwendet.
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Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 14. Januar 2025 um 14:33:57