Alle Geräte dieser Einrichtung anzeigen Wafer Messungen sentronics metrology SemDex M2
Informationen
| Name: | Wafer Messungen | |
| Hersteller: | sentronics metrology | |
| Modell: | SemDex M2 | |
| Einrichtung: | 200 mm MEMS-Reinraum | |
| Partner: | Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme (IPMS) |
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| Inventarnummer: | MTR-WMS01 | |
Beschreibung
Wafer thickness, stress, Bow, trench depths, layer thickness measurements
Optionen der Gerätenutzung
- Dieses Gerät wird im Rahmen einer Dienstleistung oder Forschungsleistung (Kooperation) verwendet.
Ansprechpartner
Zugeordnete Dienstleistungen
| Name | Vorschau | Aktionen |
|---|---|---|
| Metrologie und Inspektion |
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 14. Januar 2025 um 15:29:44