Wafer Messungen sentronics metrology SemDex M2
Informationen
Name: | Wafer Messungen | |
Hersteller: | sentronics metrology | |
Modell: | SemDex M2 | |
Einrichtung: | 200 mm MEMS-Reinraum | |
Partner: | Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme (IPMS) | |
Inventarnummer: | MTR-WMS01 |
Beschreibung
Wafer thickness, stress, Bow, trench depths, layer thickness measurements
Optionen der Gerätenutzung
- Dieses Gerät wird im Rahmen einer Dienstleistung oder Forschungsleistung (Kooperation) verwendet.
Ansprechpartner
Zugeordnete Dienstleistungen
Name | Vorschau | Aktionen |
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Metrologie und Inspektion |
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 14. Januar 2025 um 15:29:44