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Wafer Messungen sentronics metrology SemDex M2

Informationen

Name: Wafer Messungen
Hersteller: sentronics metrology
Modell: SemDex M2
Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Partner: Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme (IPMS)
Inventarnummer: MTR-WMS01

Beschreibung

Wafer thickness, stress, Bow, trench depths, layer thickness measurements

Optionen der Gerätenutzung

Ansprechpartner

Jörg Amelung
E-Mail:
Telefon:
+49 351 88 23-4691

Zugeordnete Dienstleistungen

Name Vorschau Aktionen
Metrologie und Inspektion

Letztes Update

Zuletzt aktualisiert am: 14. Januar 2025 um 15:29:44