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Alle Geräte dieser Einrichtung anzeigen Charakterisierung von Isolatorintegrität und -zuverlässigkeit Keithley K236, K237 und K238
Informationen
| Name: | Charakterisierung von Isolatorintegrität und -zuverlässigkeit | |
| Hersteller: | Keithley | |
| Modell: | K236, K237 und K238 | |
| Einrichtung: | 200 mm MEMS-Reinraum | |
| Partner: | Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme (IPMS) |
|
| Inventarnummer: | WLR-PROB02 | |
Beschreibung
- Breakdown field; Weibull plot; Time / charge to breakdown (Eramp and Econst (TDDB))
- Time / charge to breakdown; breakdown voltage; Weibull plot (Jramp; Jconst)
Optionen der Gerätenutzung
- Dieses Gerät wird im Rahmen einer Dienstleistung oder Forschungsleistung (Kooperation) verwendet.
Ansprechpartner
Zugeordnete Dienstleistungen
| Name | Vorschau | Aktionen |
|---|---|---|
| Pruefung von Wafern |
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 14. Januar 2025 um 15:51:51