10 Ergebnisse
X-ray Microscope (XRM)
Hersteller: Xradia (now Carl Zeiss Ultra)
Modell: NanoXCT-100
Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM) with focused ion beam (REM/ FIB)
Hersteller: Carl Zeiss SMT AG
Modell: CrossBeam NVision 40 ®
Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
Helios 5 PFIB CXe DualBeam
Hersteller: ThermoFisher
Modell: Helios 5 PFIB CXe
Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
Atomic Force Acoustic Microscope (AFM/AFAM)
Hersteller: Agilent Technologies
Modell: 5600 LS
Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
Spectroscopic Ellipsometer
Hersteller: SENTECH Instruments GmbH
Modell: SE850
Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
Atomic Force Acoustic Microscope (AFM/AFAM)
Hersteller: Digital Instruments/ in-house development
Modell: Dimension 3000
Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
Nanoindenter
Hersteller: Hysitron Inc.
Modell: TriboIndenter ® TI 950
Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
Transmission Electron Microscope (TEM)
Hersteller: Carl Zeiss AG
Modell: LIBRA® 200 HR MC Cs STEM
Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
Röntgendiffraktometer XRD/XRR
Hersteller: Firma Richard Seifert & Co. Ahrensburg (GE Inspection Technologies GmbH)
Modell: XRD 3000PTS
Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik

