10 Ergebnisse
X-ray Microscope (XRM)
Hersteller: Xradia (now Carl Zeiss Ultra) Modell: NanoXCT-100 Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM) with focused ion beam (REM/ FIB)
Hersteller: Carl Zeiss SMT AG Modell: CrossBeam NVision 40 ® Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
Helios 5 PFIB CXe DualBeam
Hersteller: ThermoFisher Modell: Helios 5 PFIB CXe Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
Atomic Force Acoustic Microscope (AFM/AFAM)
Hersteller: Agilent Technologies Modell: 5600 LS Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
Spectroscopic Ellipsometer
Hersteller: SENTECH Instruments GmbH Modell: SE850 Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
Atomic Force Acoustic Microscope (AFM/AFAM)
Hersteller: Digital Instruments/ in-house development Modell: Dimension 3000 Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
Nanoindenter
Hersteller: Hysitron Inc. Modell: TriboIndenter ® TI 950 Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
Transmission Electron Microscope (TEM)
Hersteller: Carl Zeiss AG Modell: LIBRA® 200 HR MC Cs STEM Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik
Röntgendiffraktometer XRD/XRR
Hersteller: Firma Richard Seifert & Co. Ahrensburg (GE Inspection Technologies GmbH) Modell: XRD 3000PTS Einrichtung: Mikroelektronik und Nanoanalytik