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Profil anzeigen: PVD- und Nanotechnik

Geräte — PVD- und Nanotechnik

Fraunhofer Institute for Material and Beam Technology
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3 Ergebnisse

 
FLX-2320 Toho Technology (Quelle: www.iws.fraunhofer.de)

Thin Film Stress Measurement System / Eigenspannungsmessgerät dünner Schichten

Hersteller: Toho Technology Inc.
Modell: FLX-2320
Einrichtung: EUV- und Röntgenoptik

 
X-Ray Diffractometer Bruker D8 ADVANCE (Quelle: www.bruker.com)

X-Ray Diffractometer (XRD) / Röntgendiffraktometer

Hersteller: Bruker AXS GmbH
Modell: D8 ADVANCE
Einrichtung: EUV- und Röntgenoptik

 
XRD Siemens D5005 (Quelle: www.labx.com)

X-Ray Diffractometer (XRD) / Röntgendiffraktometer

Hersteller: Siemens AG (now: Bruker AXS GmbH)
Modell: D5005
Einrichtung: EUV- und Röntgenoptik

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