24 Ergebnisse
Rolle-zu-Rolle Pilotbandbeschichtungsanlage (bis 1200 mm)
Hersteller: 3D-Micromac GmbH Modell: atmoFlex 1250 Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Organische Elektronik, Elektronenstrahl- und Plasmatechnik
Rolle-zu-Rolle Pilotbandbeschichtungsanlage zur Entwicklung und Produktion von Mehrfachschichtsystemen aus Lack- und Vakuumschichten (bis zu einer Beschichtungsbreite von 1200 mm).
Pilotanlage für die Rolle-zu-Rolle-Beschichtung (bis 600 mm)
Modell: coFlex® 600 Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Organische Elektronik, Elektronenstrahl- und Plasmatechnik
Pilotanlage für die Rolle-zu-Rolle-Beschichtung von flexiblen Materialien (bis zu einer Beschichtungsbreite von 600 mm), ausgestattet mit Sputtertechnologien.
Vertikale in-line Sputter-Anlage (900 mm)
Modell: ILA 900 Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Organische Elektronik, Elektronenstrahl- und Plasmatechnik
Vertikale in-line Sputter-Anlage zur Beschichtung von Flachsubstraten, unter Reinraumbedingungen mit einer Magnetronlänge von 900 mm.
Versuchsanlage zur 3D-Beschichtung mittels Puls-Magnetron-Sputtern
Modell: UNIVERSA Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Organische Elektronik, Elektronenstrahl- und Plasmatechnik
Versuchsanlage zur 3D-Beschichtung mittels Puls-Magnetron-Sputtern.
Wafer Prober
Hersteller: EVERBEING INT´L Corporation Modell: EB 08 Einrichtung: Fraunhofer-Institut für Organische Elektronik, Elektronenstrahl- und Plasmatechnik
Integrating Spheres with Array Spectrometer/ Ulbricht-Kugeln zur Lichtstrom-Messung
Hersteller: Instrument Systems Optische Messtechnik GmbH Modell: ISP 1000 with CAS 140 B Einrichtung: Flexible Organische Elektronik
Ellipsometer
Hersteller: J.A. Woollam Co. Inc. Modell: M-2000F Einrichtung: Flexible Organische Elektronik
UV-VIS-NIR Spectrophotometer
Hersteller: Shimadzu Deutschland GmbH Modell: SolidSpec 3700 DUV Einrichtung: Flexible Organische Elektronik
Display Measurement System
Hersteller: Instrument Systems GmbH (Autronic-Melchers GmbH) Modell: DMS 401 Einrichtung: Flexible Organische Elektronik
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop)
Hersteller: Hitachi HTA Modell: SU8000 Einrichtung: Werkstoffkunde/ Analytik