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Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop) Hitachi High Technologies S-5000

Informationen

Name: Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop)
Hersteller: Hitachi High Technologies
Modell: S-5000
Einrichtung: Analytics of the Center Nanoelektronische Technologien (CNT)
Partner: Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme (IPMS)

Beschreibung

Measure/Resolution:

~ 2 nm

Accessory/Options:

~ 2 nm

Link zu weiteren Informationen

http://www.hitachi-hightech.com

Ansprechpartner

Dr. Wenke Weinreich
Telefon:
+49 351 26 07-3053
Fax:
+49 351 2607-3005

Notizen

This is an instrument within the Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis (DFCNA).

Bilder

Letztes Update

Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:12