Alle Geräte dieser Einrichtung anzeigen Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop) Hitachi High Technologies S-5000
Informationen
| Name: | Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop) | |
| Hersteller: | Hitachi High Technologies | |
| Modell: | S-5000 | |
| Einrichtung: | Analytics of the Center Nanoelektronische Technologien (CNT) | |
| Partner: | Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme (IPMS) |
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Beschreibung
Measure/Resolution:
~ 2 nm
Accessory/Options:
~ 2 nm
Link zu weiteren Informationen
Ansprechpartner
Dr. Wenke Weinreich
Web:
Telefon:
+49 351 26 07-3053
Fax:
+49 351 2607-3005
Notizen
This is an instrument within the Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis (DFCNA).
Bilder
| Vorschau | Beschreibung |
|---|---|
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FE SEM Hitachi S5000 (Quelle: www.fabsurplus.com) |
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:12