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Geräte — Analytics

Fraunhofer Institute for Photonic Microsystems
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8 Ergebnisse

 
FE SEM Hitachi S5000 (Quelle: www.fabsurplus.com)

Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop)

Hersteller: Hitachi High Technologies
Modell: S-5000
Einrichtung: Analytics

 
ION-TOF TOF.SIMS 300 R (Quelle: www.iontof.com)

TOF-SIMS

Hersteller: ION-TOF GmbH
Modell: TOF.SIMS 300R
Einrichtung: Analytics

 
FEI Strata 400 STEM (Quelle: www.ims.uconn.edu)

DualBeam Field Emission Scanning Electron Microscope with Focused Ion Beam (FE SEM/ FIB)

Hersteller: FEI Company
Modell: Strata 400 STEM
Einrichtung: Analytics

 
CAMECA LEAP 4000 Si (Quelle: www.cameca.com)

Atom Probe Tomography Microscope (ATP)

Hersteller: Imago Scientific Instruments (now: Ametek/ CAMECA)
Modell: LEAP 3000X S
Einrichtung: Analytics

 
FEI Tecnai F20 XT/STEM (Quelle: www.fei.com)

Transmission Electron Microscope (TEM)

Hersteller: FEI Company
Modell: Tecnai F20 XT/STEM
Einrichtung: Analytics

 
Bruker XRD D8 DISCOVER (Quelle: www.bruker.com)

X-Ray Diffraction System (XRD/XRR)

Hersteller: Bruker Corporation
Modell: D8 DISCOVER
Einrichtung: Analytics

 
XPS Thermo Fisher Scientific Theta 300 (Quelle: www.thermoscientific.com)

X-Ray Photoelectron Spectroscope (XPS)

Hersteller: Thermo Fisher Scientific Inc.
Modell: Theta 300i
Einrichtung: Analytics

 
Bruker TXRF-Spectrometer S2 Picofox (Quelle: www.bruker.com)

Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometer (TXRF)

Hersteller: Bruker Corporation
Modell: S2 Picofox
Einrichtung: Analytics

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