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Geräte — Analytik und Metrologie

Fraunhofer Institute for Photonic Microsystems
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9 Ergebnisse

 

Raman-Spektroskopie

Hersteller: Renishaw
Modell: Invia Reflex
Einrichtung: Analytik und Metrologie

 

Lichtmikroskop

Hersteller: Zeiss
Modell: Zeiss Axio Imager KMAT und Axio Imager.A1m
Einrichtung: Analytik und Metrologie

 

Fokussierter Ionenstrahl

Hersteller: FEI Company
Modell: Strata 400
Einrichtung: Analytik und Metrologie

 

Rasterkraftmikroskopie (AFM)

Hersteller: Oxford Instruments
Modell: Asylum Research Cypher
Einrichtung: Analytik und Metrologie

 

Röntenbeugung (XRD/XRR)

Hersteller: Bruker Corporation
Modell: D8 DISCOVER
Einrichtung: Analytik und Metrologie

 

Elektronenmikroskopie

Hersteller: Hitachi; Thermo Fischer; FEI Tecnai
Modell: S-5000; Apreo S; F20
Einrichtung: Analytik und Metrologie

 

Time-of-Flight-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)

Hersteller: ION-TOF GmbH
Modell: TOF.SIMS 300R
Einrichtung: Analytik und Metrologie

 

Röntgen-Photoelektronen-Spektroskop (XPS)

Hersteller: PHI Quantes Scanning XPS/HAXPES Microprobe
Einrichtung: Analytik und Metrologie

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