9 Ergebnisse
Lichtmikroskop
Hersteller: Zeiss
Modell: Zeiss Axio Imager KMAT und Axio Imager.A1m
Einrichtung: Analytik und Metrologie
Fokussierter Ionenstrahl
Hersteller: FEI Company
Modell: Strata 400
Einrichtung: Analytik und Metrologie
Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Hersteller: Oxford Instruments
Modell: Asylum Research Cypher
Einrichtung: Analytik und Metrologie
Röntenbeugung (XRD/XRR)
Hersteller: Bruker Corporation
Modell: D8 DISCOVER
Einrichtung: Analytik und Metrologie
Elektronenmikroskopie
Hersteller: Hitachi; Thermo Fischer; FEI Tecnai
Modell: S-5000; Apreo S; F20
Einrichtung: Analytik und Metrologie
Time-of-Flight-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)
Hersteller: ION-TOF GmbH
Modell: TOF.SIMS 300R
Einrichtung: Analytik und Metrologie
Röntgen-Photoelektronen-Spektroskop (XPS)
Hersteller: PHI Quantes Scanning XPS/HAXPES Microprobe
Einrichtung: Analytik und Metrologie

