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Profil anzeigen: Analytik und Metrologie

Geräte — Analytik und Metrologie

Fraunhofer Institute for Photonic Microsystems
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9 Ergebnisse

 

Inline-Metrologie

Einrichtung: Analytik und Metrologie

 

Raman-Spektroskopie

Hersteller: Renishaw
Modell: Invia Reflex
Einrichtung: Analytik und Metrologie

 
Bruker TXRF-Spectrometer S2 Picofox (Quelle: www.bruker.com)

Lichtmikroskop

Hersteller: Zeiss
Modell: Zeiss Axio Imager KMAT und Axio Imager.A1m
Einrichtung: Analytik und Metrologie

 
FEI Strata 400 STEM (Quelle: www.ims.uconn.edu)

Fokussierter Ionenstrahl

Hersteller: FEI Company
Modell: Strata 400
Einrichtung: Analytik und Metrologie

 
CAMECA LEAP 4000 Si (Quelle: www.cameca.com)

Rasterkraftmikroskopie (AFM)

Hersteller: Oxford Instruments
Modell: Asylum Research Cypher
Einrichtung: Analytik und Metrologie

 
Bruker XRD D8 DISCOVER (Quelle: www.bruker.com)

Röntenbeugung (XRD/XRR)

Hersteller: Bruker Corporation
Modell: D8 DISCOVER
Einrichtung: Analytik und Metrologie

 
FE SEM Hitachi S5000 (Quelle: www.fabsurplus.com)

Elektronenmikroskopie

Hersteller: Hitachi; Thermo Fischer; FEI Tecnai
Modell: S-5000; Apreo S; F20
Einrichtung: Analytik und Metrologie

 
ION-TOF TOF.SIMS 300 R (Quelle: www.iontof.com)

Time-of-Flight-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)

Hersteller: ION-TOF GmbH
Modell: TOF.SIMS 300R
Einrichtung: Analytik und Metrologie

 
XPS Thermo Fisher Scientific Theta 300 (Quelle: www.thermoscientific.com)

Röntgen-Photoelektronen-Spektroskop (XPS)

Hersteller: PHI Quantes Scanning XPS/HAXPES Microprobe
Einrichtung: Analytik und Metrologie

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