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Geräte — Analytics

Fraunhofer Institute for Photonic Microsystems
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8 Ergebnisse

 

Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop)

Hersteller: Hitachi High Technologies
Modell: S-5000
Einrichtung: Analytics

 

TOF-SIMS

Hersteller: ION-TOF GmbH
Modell: TOF.SIMS 300R
Einrichtung: Analytics

 

Atom Probe Tomography Microscope (ATP)

Hersteller: Imago Scientific Instruments (now: Ametek/ CAMECA)
Modell: LEAP 3000X S
Einrichtung: Analytics

 

Transmission Electron Microscope (TEM)

Hersteller: FEI Company
Modell: Tecnai F20 XT/STEM
Einrichtung: Analytics

 

X-Ray Diffraction System (XRD/XRR)

Hersteller: Bruker Corporation
Modell: D8 DISCOVER
Einrichtung: Analytics

 

X-Ray Photoelectron Spectroscope (XPS)

Hersteller: Thermo Fisher Scientific Inc.
Modell: Theta 300i
Einrichtung: Analytics

 

Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometer (TXRF)

Hersteller: Bruker Corporation
Modell: S2 Picofox
Einrichtung: Analytics

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