Alle Geräte dieser Einrichtung anzeigen DualBeam Field Emission Scanning Electron Microscope with Focused Ion Beam (FE SEM/ FIB) FEI Company Strata 400 STEM
Informationen
| Name: | DualBeam Field Emission Scanning Electron Microscope with Focused Ion Beam (FE SEM/ FIB) | |
| Hersteller: | FEI Company | |
| Modell: | Strata 400 STEM | |
| Einrichtung: | Analytics of the Center Nanoelektronische Technologien (CNT) | |
| Partner: | Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme (IPMS) |
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Beschreibung
Measure/Resolution:
~ 2 nm
Accessory/Options:
Omniprobe, STEM
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Ansprechpartner
Dr. Wenke Weinreich
Web:
Telefon:
+49 351 26 07-3053
Fax:
+49 351 2607-3005
Notizen
This is an instrument within the Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis (DFCNA).
Bilder
| Vorschau | Beschreibung |
|---|---|
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FEI Strata 400 STEM (Quelle: www.ims.uconn.edu) |
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:12