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DualBeam Field Emission Scanning Electron Microscope with Focused Ion Beam (FE SEM/ FIB) FEI Company Strata 400 STEM

Informationen

Name: DualBeam Field Emission Scanning Electron Microscope with Focused Ion Beam (FE SEM/ FIB)
Hersteller: FEI Company
Modell: Strata 400 STEM
Einrichtung: Analytics of the Center Nanoelektronische Technologien (CNT)
Partner: Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme (IPMS)

Beschreibung

Measure/Resolution:

~ 2 nm

Accessory/Options:

Omniprobe, STEM

Link zu weiteren Informationen

http://www.fei.com/

Ansprechpartner

Dr. Wenke Weinreich
Telefon:
+49 351 26 07-3053
Fax:
+49 351 2607-3005

Notizen

This is an instrument within the Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis (DFCNA).

Bilder

Letztes Update

Zuletzt aktualisiert am: 13. Juli 2017 um 11:54:12