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15 Ergebnisse
Analytisches Zweistrahlsystem Focused Ion Beam und Rasterelektronenmikroskop
Hersteller: JEOL Modell: JIB-4610F Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung
Analytisches Zweistrahlsystem Focused Ion Beam und Rasterelektronenmikroskop - JEOL JIB-4610F
Analytisches Transmissionselektronenmikroskop 200kV
Hersteller: JEOL Modell: JEM-2100Plus Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung
Analytisches Transmissionselektronenmikroskop 200kV - JEOL JEM-2100Plus
Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM)
Hersteller: JEOL GmbH Modell: JSM-7800F Prime (SEM) FE REM Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung
Ultrahochauflösendes analytisches Feldemissionsrasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop (REM)
Hersteller: JEOL GmbH Modell: JSM-6610LV Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung
Analytisches Rasterelektronenmikroskop mit „Low-Vacuum“-Betrieb
